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QuaNix4200P分體式涂層測厚儀 -德國尼克斯

更新時間：2024-06-22

儀器型號：

簡要描述：

QuaNix4200P涂層測厚儀（分體式）更方便用戶在臺階、狹小、拐角及凹槽等復(fù)雜區(qū)域測量，QuaNix4200P涂層測厚儀（分體式）零位穩(wěn)定，無需校準，溫度補償，紅寶石探頭，*的直流采樣技術(shù)

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QuaNix4200P分體式涂層測厚儀 

QuaNix4200P涂層測厚儀（分體式）更方便用戶在臺階、狹小、拐角及凹槽等復(fù)雜區(qū)域測量，QuaNix4200P涂層測厚儀（分體式）零位穩(wěn)定，無需校準，溫度補償，紅寶石探頭，*的直流采樣技術(shù)。

QuaNix4200P涂層測厚儀（分體式）適合測量鋼、鐵等鐵磁性（Fe）金屬基體上的非磁性涂鍍層的厚度，如油漆層、各種防腐涂層、涂料、粉末噴涂、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘等
QuaNix4200P分體式涂層測厚儀技術(shù)參數(shù)：

 

QuaNix4200P
測量范圍
QNIX4200P（分體型）：Fe:0-3000um；NFe:0-3000um
QNIX4200P5（分體型）：Fe:0-5000um；NFe:0-5000um
 
顯示精度
0.1um
精度
0-50um:≤±1um
50-1000um:≤±1.5%讀數(shù)
1000-3000um≤±3%讀數(shù)
zui小接觸面
10×10mm/QNix4500
zui小曲率半徑
凸面：3mm；凹面：25mm
zui小基體厚度
Fe:0.2mm/NFe:0.05mm
溫度補償范圍
0-60℃
顯示
LCD液晶（帶背光）
探頭
紅寶石固定式
電源
2×1.5V干電池
尺寸
100×60×27mm
重量
110g

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